金相显微镜
JX-41M 显微镜
型号：JX-41M 显微镜
磨抛机的用途与特性： 采用全新设计的无限远光学系统，使用低手位操作模式，配备了 360°旋转观察筒，充分符合人体工程学原理。可广泛应用于铸造、冶炼、热处理的研究，原材料检验或材料处理分析。 主要技术指标 光学系统 无限远色差校正光学系统 观察头 三目观察筒 ,45°倾斜 , 铰链组可 360°旋转 , 固定式目镜筒 , 瞳距调节范围 50-75mm, 两档式分光比 ：双目 : 三目 =100 ：0 或 0 ：100 目镜 高眼点大视野平
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基本信息
| 参数名称 | 参数值 |
|---|---|
| 品牌 | 启亚检测（KIATEST） |
| 产品分类 | 金相显微镜 |
| 型号 | JF200M显微镜 |
| 产品编码 | OLD404 |
产品介绍
产品摘要
JF200M显微镜 属于金相显微镜，型号/标识为 JF200M显微镜。磨抛机的用途与特性： 采用全新设计的无限远光学系统，使用低手位操作模式，配备了 360°旋转观察筒，充分符合人体工程学原理。可广泛应用于铸造、冶炼、热处理的研究，原材料检验或材料处理分析。 主要技术指标 光学系统 无限远色差校正光学系统 观察头 三目观察筒 ,45°倾斜 , 铰链组可 360°旋转 , 固定式目镜筒 , 瞳距调节范围 50-75mm, 两档式分光比 ：双目 : 三目 =100 ：0 或 0 ：100 目镜 高眼点大视野平
选型与应用要点
- 产品分类：金相显微镜
- 产品型号：JF200M显微镜
- 适用场景：材料、电子、汽车、科研或实验室质量验证相关测试需求
- 咨询方式：如需确认测试标准、夹具配置、量程、空间尺寸或非标定制要求，请联系启亚检测获取方案与报价
常见问题
JF200M显微镜 主要适合哪些测试场景？
该产品主要用于金相显微镜相关测试场景，适合需要进行设备选型、参数确认、实验室建设或质量验证的企业与科研用户。
选型时需要确认哪些参数？
建议先确认测试对象、执行标准、量程范围、试样尺寸、夹具配置、温湿度或环境条件、数据输出方式以及是否需要非标定制。
是否可以根据实验室需求定制方案？
可以。启亚检测可根据测试标准、场地条件、预算范围和使用频率，提供设备选型、配置建议与方案报价。
磨抛机的用途与特性：
采用全新设计的无限远光学系统，使用低手位操作模式，配备了 360°旋转观察筒，充分符合人体工程学原理。可广泛应用于铸造、冶炼、热处理的研究，原材料检验或材料处理分析。
主要技术指标
光学系统 | 无限远色差校正光学系统 |
观察头 | 三目观察筒 ,45°倾斜 , 铰链组可 360°旋转 , 固定式目镜筒 , 瞳距调节范围 50-75mm, 两档式分光比 ：双目 : 三目 =100 ：0 或 0 ：100 |
目镜 | 高眼点大视野平场目镜 PL10X/22mm, 视度可调，可带测微尺 |
高眼点大视野平场目镜 PL15X/16mm, 视度可调 | |
物镜 | 无限远长工作距平场消色差金相物镜 5X、10X、20X、50X、100X |
无限远长工作距平场明暗场消色差金相物镜 5X、10X、20X、50X、100X | |
物镜转换器 | 内定位 5 孔明场转换器（带 DIC 插槽），内置倍率传感器 |
内定位 5 孔明暗场转换器（带 DIC 插槽），内置倍率传感器 | |
机架 | 反射明暗场金相机架 , 采用低手位粗微调同轴 , 粗调行程 9mm, 焦面向上 6.5mm, 向下 2.5mm, 微调精度 0.002mm, 带有防止下滑 的松紧调节手轮 ; 带明暗场切换装置 , 带可变视场光阑、孔径光阑，中心均可调；带滤色片插槽与偏光装置插槽 , 带灯源亮度指示条 , 带红外感应和物镜倍率显示功能 |
照明系统 | 12V50W 卤素灯中心可调，采用外置式宽电压变压器 , 输入 100-240V, 输出 15V13.4A, 亮度连续可调 |
载物台 | 三层机械移动平台，平台尺寸 ：240（W）×250（L），移动范围 50×50mm，双向线轨传动，右手低手位控制
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摄影摄像附件 | 摄影摄像附件 0.35X、0.5X、0.65X、1X，C 型接口，可调焦 |
其他 | 起偏镜插板，固定式检偏镜插板，360°旋转式检偏镜插板 ； DIC 微分干涉组件 ；滤色片组 ；高精度测微尺 |
产品细节图